检测范围
- 远紫外光学级石英玻璃片（JGS1）
- 紫外光学石英片（JGS2）
- 红外光学石英片（JGS3）
- 高纯合成熔融石英片
- 电熔透明石英玻璃片
- 连熔法石英片
- 气炼法石英片
- 镀膜紫外石英窗口片
- 未抛光毛坯石英片
- 双面抛光精密石英片
- 单面抛光石英窗口片
- 紫外固化设备用石英滤光片
- 氘灯用紫外石英窗口片
- 高压汞灯石英隔片
- 光谱仪比色皿用石英片
- 半导体光掩模基板石英片
- 低羟基紫外石英片
- 低膨胀石英陶瓷复合片
- 微晶石英玻璃片
- 掺杂紫外截止型石英滤光片
- 大尺寸方形石英窗口片
- 圆形紫外石英观察窗片
- 耐高温石英隔热片
检测标准（部分）
- SJ/T 11199-2016 压电石英晶体片
- JC/T 2169-2013 滤紫外石英玻璃管
- JC/T 2610-2021 光纤拉丝固化用透紫外石英玻璃管
- JB/T 13361-2018 紫外、可见和近红外光学滤光片
- JC/T 471-1992 光敏探测器用人造石英晶体片
- JC 471-1992 光敏探测器用人造石英晶体片
- SJ/T 11199-1999 压电石英晶体片
- T/CEMIA 006-2018 膜厚监控用石英晶振片
- T/CEMIA 025-2021 光伏电池片制程用石英管
- YY/T 0160-1994 直管形石英紫外线低压汞消毒灯
- BS EN 16344:2013 Cosmetics. Analysis of cosmetic products. Screening for UV-filters in cosmetic products and quantitative determination of 10 UV-filters by HPLC
- AWWA WQTC63976 Impact Assessment of Quartz Sleeve Cleaning Interruption in a Medium Pressure Ultraviolet Disinfection Reactor
- AWWA WQTC62606 The Influence of Oxidation Reduction Potential on Inorganic Fouling of Quartz Surfaces in UV Disinfection Systems
- UNE 84124:2000 Cosmetic raw materials. Determination of UV-filters by spectrophotometric absorbance.
- DIN 4647-2:1977-09 Glasses for Eye-protection Equipment; Protective Filters against Ultra-violet Radiation (Protective UV Filters)
- MIL MIL-S-13949/20A Notice 2-Cancellation SHEET, PRINTED WIRING BOARD, PREPREG, BASE MATERIAL QI (WOVEN QUARTZ REINFORCEMENT, POLYIMIDE RESIN) (SUPERSEDING MIL-S-13949/20) (NO S/S DOCUMENT)
- MIL MIL-S-13949/20A Notice 1-Inactivation SHEET, PRINTED WIRING BOARD, PREPREG, BASE MATERIAL QI (WOVEN QUARTZ REINFORCEMENT, POLYIMIDE RESIN) (SUPERSEDING MIL-S-13949/20) (NO S/S DOCUMENT)
- BS 11/30252494 DC BS EN 16344. Cosmetics. Analysis of cosmetic preparations. Detection and quantitative determination of UV filters in cosmetic preparations, HPLC method
- MIL MIL-S-13949/19A Notice 2-Cancellation SHEET, PRINTED WIRING BOARD, LAMINATED, BASE MATERIAL QI (WOVEN QUARTZ REINFORCEMENT, POLYIMIDE RESIN, HEAT RESISTANT, METAL CLAD OR UNCLAD) (SUPERSEDING MIL-S-13949/19) (NO S/S DOCUMENT)
- MIL MIL-S-13949/19A Notice 1-Inactivation SHEET, PRINTED WIRING BOARD, LAMINATED, BASE MATERIAL QI (WOVEN QUARTZ REINFORCEMENT, POLYIMIDE RESIN, HEAT RESISTANT, METAL CLAD OR UNCLAD) (SUPERSEDING MIL-S-13949/19) (NO S/S DOCUMENT)
紫外石英片检测项目
- 紫外波段透光率：衡量170-400nm波段透过能力，是判定紫外光学性能的核心指标
- 吸收系数：反映材料对特定波长的本征吸收水平，影响透光均匀性
- 光学均匀性：评定内部折射率分布一致性，直接关系成像与光束质量
- 应力双折射：反映退火残余应力大小，过大会导致光路偏振畸变
- 条纹度：检测内部条纹缺陷等级，条纹会干扰光线传播方向
- 颗粒不均匀性：评定内部微小结构均匀程度，影响散射损耗
- 气泡与杂质含量：按标准分级判定，气泡数量超标会降低光学品质
- 羟基含量：羟基吸收峰会影响紫外特别是真空紫外波段的透过率
- 金属杂质元素含量：铝、铁、钛、钠等杂质总量决定材料纯度等级
- 折射率：确定材料光学常数，用于光学设计计算
- 直径与厚度偏差：尺寸公差需满足装配配合要求
- 平行度：两工作面的平行误差影响光路偏转精度
- 表面平整度：以光圈数评定，决定波前畸变程度
- 表面粗糙度：影响散射损失与镀膜附着力
- 倒边与崩边检查：边缘缺陷会导致应力集中和碎裂风险
- 表面疵病（划痕、麻点）：按麻点与划痕等级判定外观质量
- 热膨胀系数：衡量温度变化下的尺寸稳定性
- 软化点与退火点：评定耐热性能与热加工特性
- 抗弯强度：反映材料承受机械载荷的能力
- 硬度：评定耐划伤与耐磨性能
- 耐热冲击性：验证急冷急热条件下的抗开裂能力
- 耐化学腐蚀性：评价对酸碱介质的抗侵蚀能力
- 荧光特性：紫外激发下荧光过强会干扰光学测量
- 镀膜层附着力：针对镀膜石英片判定膜层结合牢固程度
常见问题
紫外石英片检测需要多长时间？通常7-15个工作日
常规性能检测7-15个工作日可完成，涉及杂质元素全分析或光学均匀性精密测量时，周期可能延长至20个工作日左右，加急样品可与实验室协商安排。
紫外石英片检测费用大概多少？根据检测项目数量确定
检测费用依据所选项目数量和测试方法而定，单项透光率或尺寸测量费用较低，若需进行羟基含量、金属杂质光谱分析及光学均匀性全套测试，费用会相应增加，可先明确测试需求后获取报价。
送检紫外石英片样品有哪些要求？
一般需提供3-5片完整样品，表面清洁无油污，双面抛光件建议单独包装避免磕碰；委托时请注明材料牌号（如JGS1/JGS2/JGS3）、标称尺寸及关注波段，以便实验室制定针对性测试方案。
检测信息
紫外石英片是一种以高纯度熔融石英为原料制成的光学窗口材料，广泛应用于紫外光谱仪、紫外光源、光刻设备、水质分析仪器及半导体制造等领域，主要承担紫外波段透光、密封隔离等功能。
对紫外石英片的检测旨在验证其光学性能、几何精度与材料纯度是否满足使用要求，涉及分光光度法测透光率、干涉法测光学均匀性、光谱分析法测杂质元素含量等技术手段。
检测流程通常包括样品外观初检、尺寸与几何公差测量、紫外-可见分光光度测试、羟基及杂质成分分析，核心参数涵盖200-400nm波段透光率、平行度、表面粗糙度与热膨胀系数等。
紫外石英片检测方法
- 紫外-可见分光光度法：测定170-400nm波段透光率与吸收曲线
- 干涉法：利用激光干涉仪测量表面平整度与光学均匀性
- 偏光应力仪法：定量测定应力双折射光程差
- 阴影法与条纹观测法：评定内部条纹和颗粒不均匀性等级
- 红外光谱法：通过3420cm-1附近吸收峰定量分析羟基含量
- 电感耦合等离子体发射光谱法：测定铝、铁、钛、钠等金属杂质含量
- 阿贝折射仪法与V棱镜法：测量材料折射率与色散系数
- 接触式与激光测厚法：测量厚度偏差与直径尺寸公差
- 千分表与自准直仪法：检测两工作面的平行度误差
- 轮廓仪与原子力显微镜法：测量表面粗糙度Ra值
- 激光散射疵病检查法：按标准判定划痕、麻点等级
- 热膨胀仪法：测定20-320℃区间平均线膨胀系数
- 差热分析法：确定软化点与退火点温度
- 三点弯曲试验法：测定抗弯强度
- 显微硬度计法：测定维氏或努氏硬度
- 酸碱浸蚀称重法：评价耐化学腐蚀性能
总结
紫外石英片检测是针对石英窗口材料开展的光学性能、几何精度、材料纯度与理化性能测试，覆盖透光率、羟基含量、杂质元素、表面疵病等核心参数。
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旗下实验室资质
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