北检（北京）检测技术研究院

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望见谅。

检测信息（部分）

1. 什么是物相分析检测？ 物相分析检测是通过X射线衍射（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）等技术，确定材料中存在的晶体结构、相组成及其分布情况的科学方法。 2. 物相分析检测的主要用途是什么？ 该检测广泛应用于材料科学、地质勘探、冶金、化工、制药等领域，用于产品质量控制、研发优化、失效分析等。 3. 物相分析检测的流程是怎样的？ 检测流程包括样品制备、仪器校准、数据采集、图谱分析及报告生成，通常需要1-3个工作日完成。 4. 物相分析检测的样品要求是什么？ 样品需为粉末或块状固体，质量不低于0.5g，避免污染和潮湿，特殊样品需提前沟通处理方式。

检测项目（部分）

• 晶体结构分析：确定材料的晶格参数和空间群。
• 相组成定量：计算各相在材料中的百分比含量。
• 晶粒尺寸计算：通过Scherrer公式估算晶粒大小。
• 残余应力分析：测量材料内部应力分布。
• 择优取向分析：评估晶体取向的集中程度。
• 非晶含量测定：量化非晶态相的比例。
• 物相鉴定：比对标准数据库确认组分。
• 高温相变研究：监测温度变化下的相转变。
• 微观形貌观察：通过SEM获取表面形貌特征。
• 元素分布映射：EDS面扫分析元素空间分布。
• 结晶度计算：区分结晶与非结晶区域比例。
• 层状结构分析：测定材料的层间距和堆叠方式。
• 缺陷密度评估：分析晶体缺陷的类型和密度。
• 同质多晶型鉴别：区分不同晶型的同种物质。
• 纳米颗粒表征：测定纳米材料的相组成和尺寸。
• 薄膜厚度测量：XRR技术计算薄膜厚度和密度。
• 应力梯度分析：深度方向的应力变化情况。
• 织构系数计算：量化多晶材料的取向偏好。
• 亚稳相检测：识别材料中的亚稳态相结构。
• 全谱拟合精修：Rietveld法精确修正结构参数。

检测范围（部分）

• 金属及合金材料
• 无机非金属材料
• 陶瓷和耐火材料
• 水泥和混凝土制品
• 矿物和岩石样本
• 催化剂和吸附剂
• 电池电极材料
• 半导体材料
• 高分子复合材料
• 药物原料和制剂
• 纳米功能材料
• 涂层和薄膜材料
• 磁性材料
• 超导材料
• 玻璃制品
• 土壤和沉积物
• 工业废渣
• 考古文物
• 珠宝玉石
• 电子元器件

检测仪器（部分）

• X射线衍射仪（XRD）
• 场发射扫描电镜（FE-SEM）
• 透射电子显微镜（TEM）
• 电子背散射衍射仪（EBSD）
• X射线荧光光谱仪（XRF）
• 拉曼光谱仪
• 傅里叶红外光谱仪（FTIR）
• 热重-差示扫描量热仪（TG-DSC）
• 原子力显微镜（AFM）
• X射线光电子能谱仪（XPS）

检测方法（部分）

• 粉末X射线衍射法：最常用的多晶材料物相鉴定方法。
• 掠入射XRD：专用于薄膜样品的结构分析。
• Rietveld精修法：通过全谱拟合定量相组成。
• 谢乐公式法：根据衍射峰宽计算晶粒尺寸。
• 威廉姆逊-霍尔法：区分晶粒细化和微观应变。
• 极图分析：研究材料织构的三维取向分布。
• 电子衍射：TEM下获取纳米区域的晶体结构。
• 选区电子衍射：针对特定微区进行结构分析。
• 能量色散X射线谱：配合电镜进行元素分析。
• 波长色散X射线谱：更高精度的元素定量方法。
• X射线反射法：测定薄膜厚度和界面粗糙度。
• 小角X射线散射：分析纳米尺度结构特征。
• 同步辐射XRD：利用高亮度光源进行微量分析。
• 高温原位XRD：实时观察相变过程。
• 微区XRD：对样品局部区域进行定向分析。
• 三维X射线衍射：重建晶体三维取向信息。
• 中子衍射：对轻元素和磁性材料特别有效。
• 电子背散射衍射：获取晶体取向和晶界信息。
• 原子探针层析：三维原子尺度成分分析。
• 共聚焦拉曼成像：化学相的空间分布分析。