北检（北京）检测技术研究院

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试，望见谅。

检测信息（部分）

检测项目（部分）

• Ra（算术平均偏差）：表示表面轮廓的算术平均高度。
• Rz（最大高度）：表面轮廓最高点与最低点的垂直距离。
• Rq（均方根粗糙度）：表面轮廓的均方根偏差。
• Rt（总高度）：最大峰谷高度。
• Rp（最大峰高）：最高峰到中线的距离。
• Rv（最大谷深）：最低谷到中线的距离。
• Rsk（偏斜度）：表面轮廓分布的对称性。
• Rku（陡度）：表面轮廓的尖锐程度。
• Rsm（平均间距）：轮廓峰谷的平均间距。
• Rmr（材料比）：轮廓支撑长度比率。
• Rc（轮廓要素高度）：轮廓要素的平均高度。
• Rda（算术平均斜率）：轮廓斜率的算术平均值。
• Rdq（均方根斜率）：轮廓斜率的均方根值。
• Rpc（峰计数）：单位长度内的峰数量。
• Rpm（平均峰间距）：峰之间的平均距离。
• Rvo（谷容积）：谷区域的容积。
• Rvi（峰容积）：峰区域的容积。
• Rk（核心粗糙度深度）：核心轮廓的深度。
• Rpk（峰值粗糙度）：突出峰的高度。
• Rvk（谷值粗糙度）：突出谷的深度。

检测范围（部分）

• 金属表面
• 塑料制品
• 陶瓷材料
• 玻璃表面
• 涂层材料
• 复合材料
• 橡胶制品
• 木材表面
• 石材表面
• 纸张表面
• 纺织品
• 电子元件
• 汽车零部件
• 航空航天部件
• 医疗器械
• 模具表面
• 光学元件
• 精密仪器
• 建筑构件
• 船舶部件

检测仪器（部分）

• 便携式粗糙度仪
• 台式粗糙度仪
• 激光粗糙度仪
• 接触式粗糙度仪
• 非接触式粗糙度仪
• 光学轮廓仪
• 三维表面形貌仪
• 电子显微镜
• 原子力显微镜
• 白光干涉仪

检测方法（部分）

• 接触式测量：通过探头直接接触表面进行测量。
• 非接触式测量：利用光学或激光技术测量表面。
• 轮廓法：沿表面轮廓线测量高度变化。
• 干涉法：利用光干涉原理测量表面形貌。
• 激光扫描法：通过激光扫描表面获取数据。
• 白光干涉法：利用白光干涉测量表面粗糙度。
• 原子力显微镜法：通过原子力探针测量纳米级粗糙度。
• 电子显微镜法：利用电子显微镜观察表面形貌。
• 相位测量法：通过相位变化测量表面高度。
• 共聚焦显微镜法：利用共聚焦原理测量表面轮廓。
• 光学轮廓法：通过光学系统测量表面形貌。
• 机械探针法：使用机械探针扫描表面。
• 激光衍射法：利用激光衍射测量表面粗糙度。
• 超声波法：通过超声波反射测量表面粗糙度。
• 电容法：利用电容变化测量表面高度。
• 电感法：通过电感变化测量表面轮廓。
• 磁力法：利用磁力测量表面粗糙度。
• X射线法：通过X射线衍射测量表面形貌。
• 红外法：利用红外技术测量表面粗糙度。
• 声学显微镜法：通过声波测量表面形貌。

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