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电子元器件失效检测

作为第三方电子元器件失效检测机构,北检院可根据电子元器件失效的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行电子元器件失效检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。

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发布时间:2024-03-07 23:20:57 浏览量:0 所属栏目:检测标准

标准列表(部分)

《 GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法 》标准简介

  • 标准名称:电子元器件失效率试验方法
  • 标准号:GB/T 1772-1979
    中国标准分类号:L10
  • 发布日期:1979-09-25
    国际标准分类号:31.020
  • 实施日期:1980-03-01
    技术归口:工业和信息化部(电子)
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学电子元器件综合
  • 内容简介:

    国家标准《电子元器件失效率试验方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

《 T/CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序 》标准简介

  • 标准名称:电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序
  • 标准号:T/CIE 115-2021
    中国标准分类号:/C397
  • 发布日期:2021-11-22
    国际标准分类号:31.080.01
  • 实施日期:2022-02-01
    团体名称:中国电子学会
  • 标准分类:电子器件制造半导体器分立件综合
  • 内容简介:

    本文件是针对元器件级的失效模式及影响分析,是对系统及整机级的FMEA标准的有效补充,可保证元器件制造和应用方了解和掌握影响元器件可靠性的主要失效机理、模式及原因,并预先采取有效的预防措施;支撑元器件的可靠性设计、生产工艺控制以及整机用户的可靠性应用。

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