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晶向检测,晶向检测标准
晶向检测标准
检测咨询量:2位   发布时间:2024-04-10 16:43:02   
作为第三方晶向检测机构,北检院可根据晶向的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行晶向检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。

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标准列表(部分)

《 GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法 》标准简介

  • 标准名称:半导体单晶晶向测定方法
  • 标准号:GB/T 1555-2023
    中国标准分类号:H21
  • 发布日期:2023-08-06
    国际标准分类号:77.040
  • 实施日期:2024-03-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:GB/T 1555-2009
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:冶金金属材料试验
  • 内容简介:

    国家标准《半导体单晶晶向测定方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

    本文件描述了X射线衍射定向和光图定向测定半导体单晶晶向的方法。 本文件适用于半导体单晶晶向的测定。X射线衍射定向法适用于测定硅、锗、砷化镓、碳化硅、氧化镓、氮化镓、锑化铟和磷化铟等大致平行于低指数原子面的半导体单晶材料的表面取向;光图定向法适用于测定硅、锗等大致平行于低指数原子面的半导体单晶材料的表面取向。

《 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 》标准简介

  • 标准名称:半导体单晶晶向测定方法
  • 标准号:GB/T 1555-1997
    中国标准分类号:H21
  • 发布日期:1997-12-22
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:1998-08-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:被GB/T 1555-2009代替
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《半导体单晶晶向测定方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

《 SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法 》标准简介

  • 标准名称:碳化硅单晶晶向的测试方法
  • 标准号:SJ/T 11500-2015
    中国标准分类号:H83
  • 发布日期:2015-04-30
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2015-10-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电气工程半导体材料电子
  • 内容简介:

    行业标准《碳化硅单晶晶向的测试方法》由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口上报,主管部门为工业和信息化部。

《 SJ 3244.3-1989 砷化镓、磷化铟单晶晶向的测量方法 》标准简介

  • 标准名称:砷化镓、磷化铟单晶晶向的测量方法
  • 标准号:SJ 3244.3-1989
    中国标准分类号:A01
  • 发布日期:1989-03-20
    国际标准分类号:
  • 实施日期:1989-03-25
    技术归口:
  • 代替标准:
    主管部门:
  • 标准分类:综合技术管理标准化管理与一般规定
  • 内容简介:

《 GB/T 34210-2017 蓝宝石单晶晶向测定方法 》标准简介

  • 标准名称:蓝宝石单晶晶向测定方法
  • 标准号:GB/T 34210-2017
    中国标准分类号:H21
  • 发布日期:2017-09-07
    国际标准分类号:77.040
  • 实施日期:2018-06-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:冶金金属材料试验
  • 内容简介:

    国家标准《蓝宝石单晶晶向测定方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

《 GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法 》标准简介

  • 标准名称:半导体单晶晶向测定方法
  • 标准号:GB/T 1555-2009
    中国标准分类号:H80
  • 发布日期:2009-10-30
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2010-06-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:GB/T1555-1997
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《半导体单晶晶向测定方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

常见问题

北检院检测报告出具周期7-15个工作日,具体周期需要根据样品情况来定。请您在咨询时尽可能的描述样品的情况以及样品状态,由此可制定更好的检测周期和检测方案。

为了防止在制样时对样品产生部分变化,导致检测数据有偏差,检测样品一般为客户提供,如果客户实在无法制作检测样品,则由北检院进行样品的制作。

检测方案可以根据客户检测需求来制定,如果客户要求相应的检测方案则按照客户提供的检测方案进行检测,如客户没有检测方案,则工程师通过检测标准进行制定,如果是非标试验,则由工程师根据样品信息对方案进行制定。

检测流程

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检测优势

1、单位面向科研院所、学校和社会企业及科研单位,面向社会公共服务。

2、实验管理中心下设检测分析中心、科研测试中心、X射线应用中心。

3、面向物理、化学化工、材料、纳米、环境、电子、能源等众多学科。

4、拥有多台精密检测仪器设备。

5、能够从事材料微观结构分析、定性和定量分析、材料性能测定、材料质量综合评定等工作。

6、提供24小时开放服务、网络化的管理。

7、具备向校内外科学研究和品质鉴定提供公正、科研测试数据能力的重要机构。

检测实验室

检测实验室

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作为第三方光伏检测机构,北检院可根据光伏的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行光伏检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。
作为第三方装饰纸检测机构,北检院可根据装饰纸的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行装饰纸检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。
作为第三方塑性值检测机构,北检院可根据塑性值的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行塑性值检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。
作为第三方被芯检测机构,北检院可根据被芯的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行被芯检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。
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