标准编号:GB/T 41033-2021
标准名称:CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
英文名称:Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
发布部门:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位:中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所
标准状态:现行
发布日期:2021-12-31
实施日期:2022-07-01
标准格式:PDF
本文件规定了CMOS集成电路抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。
本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射(总剂量、单粒子)加固设计。
1、单位面向科研院所、学校和社会企业及科研单位,面向社会公共服务。
2、实验管理中心下设检测分析中心、科研测试中心、X射线应用中心。
3、面向物理、化学化工、材料、纳米、环境、电子、能源等众多学科。
4、拥有多台精密检测仪器设备。
5、能够从事材料微观结构分析、定性和定量分析、材料性能测定、材料质量综合评定等工作。
6、提供24小时开放服务、网络化的管理。
7、具备向校内外科学研究和品质鉴定提供公正、科研测试数据能力的重要机构。