GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
检测咨询量：9位 发布时间：2023-01-06 14:34:32
《GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）》GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本部分描述了测量作为频率函数的衰减/插入损耗的频域法和时域法。 注： 本文件从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结果时，必须使用合适的术语（衰减或插入损耗）。
标准简介（部分）
标准编号：GB/T 5095.2502-2021
标准名称：电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
英文名称：Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-2:Test 25b:Attenuation (insertion loss)
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院
标准状态：现行
发布日期：2021-03-09
实施日期：2021-10-01
标准格式：PDF
内容简介（部分）
GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量作为频率函数的衰减/插入损耗的频域法和时域法。 注： 本文件从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结果时，必须使用合适的术语（衰减或插入损耗）。
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