标准列表（部分）
《 GB/T 13387-1992 电子材料晶片参考面长度测量方法 》标准简介
- 标准名称：电子材料晶片参考面长度测量方法
- 标准号：GB/T 13387-1992
- 中国标准分类号：H21
- 发布日期：1992-02-19
- 国际标准分类号：
- 实施日期：1992-10-01
- 技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 代替标准：被GB/T 13387-2009代替
- 主管部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：
- 内容简介：
国家标准《电子材料晶片参考面长度测量方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
《 SJ 3234-1989 电子材料真空放气性能的动态测试方法 》标准简介
- 标准名称：电子材料真空放气性能的动态测试方法
- 标准号：SJ 3234-1989
- 中国标准分类号：A01
- 发布日期：1989-02-20
- 国际标准分类号：
- 实施日期：1989-03-25
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：综合技术管理标准化管理与一般规定
- 内容简介：
《 SJ 3195-1989 电子材料功函数的测试方法 》标准简介
- 标准名称：电子材料功函数的测试方法
- 标准号：SJ 3195-1989
- 中国标准分类号：A01
- 发布日期：1989-02-10
- 国际标准分类号：
- 实施日期：1989-03-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：综合技术管理标准化管理与一般规定
- 内容简介：
《 SJ 3196-1989 电子材料次级电子发射系数的测试方法 》标准简介
- 标准名称：电子材料次级电子发射系数的测试方法
- 标准号：SJ 3196-1989
- 中国标准分类号：A01
- 发布日期：1989-02-10
- 国际标准分类号：
- 实施日期：1989-03-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：综合技术管理标准化管理与一般规定
- 内容简介：
《 SJ 3205-1989 电子材料蒸发率的测定方法 》标准简介
- 标准名称：电子材料蒸发率的测定方法
- 标准号：SJ 3205-1989
- 中国标准分类号：A01
- 发布日期：1989-02-10
- 国际标准分类号：
- 实施日期：1989-03-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 主管部门：
- 标准分类：综合技术管理标准化管理与一般规定
- 内容简介：
《 GB/T 13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法 》标准简介
- 标准名称：硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
- 标准号：GB/T 13387-2009
- 中国标准分类号：H80
- 发布日期：2009-10-30
- 国际标准分类号：29.045
- 实施日期：2010-06-01
- 技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 代替标准：GB/T13387-1992
- 主管部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：电气工程半导体材料
- 内容简介：
国家标准《硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
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