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半导体材料检测,半导体材料检测标准
半导体材料检测
检测咨询量:4位   发布时间:2024-02-13 02:46:24   
作为第三方半导体材料检测机构,北检院可根据半导体材料的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行半导体材料检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望见谅。

标准列表(部分)

《 YS/T 1590-2022 多晶硅行业绿色工厂评价要求 》标准简介

  • 标准名称:多晶硅行业绿色工厂评价要求
  • 标准号:YS/T 1590-2022
    中国标准分类号:H04
  • 发布日期:2022-09-30
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2023-04-01
    技术归口:
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:有色金属电气工程半导体材料制造业
  • 内容简介:

    行业标准《多晶硅行业绿色工厂评价要求》,主管部门为工业和信息化部。本文件规定了多晶硅行业绿色工厂评价的总则、评价要求、评价程序和评价报告。本文件适用于多晶硅行业绿色工厂的评价。

《 GB/T 30652-2023 硅外延用三氯氢硅 》标准简介

  • 标准名称:硅外延用三氯氢硅
  • 标准号:GB/T 30652-2023
    中国标准分类号:H83
  • 发布日期:2023-08-06
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2024-03-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:GB/T 30652-2014
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《硅外延用三氯氢硅》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

    本文件规定了硅外延用三氯氢硅(SiHCl 3)的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、随行文件及订货单内容。 本文件适用于以三氯氢硅为原料精制提纯而制得的硅外延用三氯氢硅(以下简称产品)。

《 GB/T 35307-2023 流化床法颗粒硅 》标准简介

  • 标准名称:流化床法颗粒硅
  • 标准号:GB/T 35307-2023
    中国标准分类号:H82
  • 发布日期:2023-08-06
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2024-03-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:GB/T 35307-2017
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《流化床法颗粒硅》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

    本文件规定了流化床法颗粒硅的牌号、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存和随行文件及订货单内容。 本文件适用于以氯硅烷、硅烷气为原料,采用流化床法生产的颗粒状多晶硅(以下简称颗粒硅)。

《 T/ZJATA 0017-2023 制备碳化硅半导体材料用化学气相沉积法(CVD)外延设备 》标准简介

  • 标准名称:制备碳化硅半导体材料用化学气相沉积法(CVD)外延设备
  • 标准号:T/ZJATA 0017-2023
    中国标准分类号:/C356
  • 发布日期:2023-06-20
    国际标准分类号:31.220.01
  • 实施日期:2023-07-20
    团体名称:浙江省分析测试协会
  • 标准分类:机电元件综合电子和电工机械专用设备制造
  • 内容简介:

    本文件规定了制备碳化硅半导体材料用化学气相沉积法(CVD)外延设备(以下简称碳化硅外延设备)的产品分类、标记、组成及基本参数、工作条件、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输与贮存、质量承诺

    本文件适用于采用化学气相沉积法(CVD)技术加工100mm(4英寸)、150mm(6英寸)和200mm(8英寸)SiC晶片的碳化硅外延设备

    本文件包含了制备碳化硅半导体材料用化学气相沉积法(CVD)外延设备(以下简称“外延设备”)的产品分类、工作条件、技术要求、试验方法、检测规则、标志、包装、运输和贮存要求内容,对外延设备的反应室系统、温度控制系统、加热系统、真空系统、加工(碳化硅外延片)质量指标给出了统一技术参数及评价方法。通过对可靠性、加工效率、温度压力流量等关键参数控制,保证了设备的精准性、安全性。

《 GB/T 30656-2023 碳化硅单晶抛光片 》标准简介

  • 标准名称:碳化硅单晶抛光片
  • 标准号:GB/T 30656-2023
    中国标准分类号:H83
  • 发布日期:2023-03-17
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2023-10-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:GB/T 30656-2014
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《碳化硅单晶抛光片》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

    本文件规定了4H及6H碳化硅单晶抛光片的牌号及分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、随行文件和订货单内容。本文件适用于生产电力电子器件、射频微波器件及LED发光器件的外延材料用碳化硅单晶抛光片。

《 GB/T 12963-2022 电子级多晶硅 》标准简介

  • 标准名称:电子级多晶硅
  • 标准号:GB/T 12963-2022
    中国标准分类号:H82
  • 发布日期:2022-12-30
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2023-07-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:GB/T 12963-2014
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《电子级多晶硅》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

    本文件规定了电子级多晶硅的牌号和类别、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、随行文件和订货单内容。本文件适用于以氯硅烷、硅烷制得的电子级多晶硅(以下简称“多晶硅”)。

《 YS/T 1510-2021 高纯锗粉 》标准简介

  • 标准名称:高纯锗粉
  • 标准号:YS/T 1510-2021
    中国标准分类号:H82
  • 发布日期:2021-12-02
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2022-04-01
    技术归口:
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:制造业有色金属电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    行业标准《高纯锗粉》,主管部门为工业和信息化部。本文件适用于以高纯二氧化锗为原料经氢气还原后,研磨、筛分生产的高纯锗粉。

《 GB/T 31092-2022 蓝宝石单晶晶棒 》标准简介

  • 标准名称:蓝宝石单晶晶棒
  • 标准号:GB/T 31092-2022
    中国标准分类号:H83
  • 发布日期:2022-12-30
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2023-07-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:GB/T 31092-2014
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《蓝宝石单晶晶棒》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

    本文件规定了蓝宝石单晶晶棒的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、随行文件及订货单内容。本文件适用于衬底、光学用途的蓝宝石单晶晶棒(以下简称“晶棒”)。

《 DB35/T 1146-2011 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法 》标准简介

  • 标准名称:硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
  • 标准号:DB35/T 1146-2011
    中国标准分类号:H80
  • 发布日期:2011-04-10
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2011-07-10
    技术归口:中国科学院福建物质结构研究所
  • 代替标准:
    主管部门:福建省质量技术监督局
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    地方标准《硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法》由中国科学院福建物质结构研究所归口上报,主管部门为福建省质量技术监督局。

《 GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法 》标准简介

  • 标准名称:用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
  • 标准号:GB/T 14863-2013
    中国标准分类号:H80
  • 发布日期:2013-12-31
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2014-08-15
    技术归口:工业和信息化部(电子)
  • 代替标准:GB/T14863-1993
    主管部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。

《 GB/T 12962-1996 硅单晶 》标准简介

  • 标准名称:硅单晶
  • 标准号:GB/T 12962-1996
    中国标准分类号:H82
  • 发布日期:1996-11-04
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:1997-04-01
    技术归口:中国有色金属工业协会
  • 代替标准:被GB/T 12962-2005代替
    主管部门:中国有色金属工业协会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《硅单晶》由610(中国有色金属工业协会)归口,主管部门为中国有色金属工业协会。

《 GB/T 12965-1996 硅单晶切割片和研磨片 》标准简介

  • 标准名称:硅单晶切割片和研磨片
  • 标准号:GB/T 12965-1996
    中国标准分类号:H82
  • 发布日期:1996-11-04
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:1997-04-01
    技术归口:中国有色金属工业协会
  • 代替标准:被GB/T 12965-2005代替
    主管部门:中国有色金属工业协会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《硅单晶切割片和研磨片》由610(中国有色金属工业协会)归口,主管部门为中国有色金属工业协会。

《 GB/T 12963-1996 硅多晶 》标准简介

  • 标准名称:硅多晶
  • 标准号:GB/T 12963-1996
    中国标准分类号:H82
  • 发布日期:1996-11-04
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:1997-04-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:被GB/T 12963-2009代替
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《硅多晶》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。

《 GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块 》标准简介

  • 标准名称:太阳能级铸造多晶硅块
  • 标准号:GB/T 29054-2012
    中国标准分类号:H82
  • 发布日期:2012-12-31
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2013-10-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:被GB/T 29054-2019代替
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《太阳能级铸造多晶硅块》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。

《 GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片 》标准简介

  • 标准名称:太阳电池用多晶硅片
  • 标准号:GB/T 29055-2012
    中国标准分类号:H82
  • 发布日期:2012-12-31
    国际标准分类号:29.045
  • 实施日期:2013-10-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:被GB/T 29055-2019代替
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:电气工程半导体材料
  • 内容简介:

    国家标准《太阳电池用多晶硅片》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。

常见问题

北检院检测报告出具周期7-15个工作日,具体周期需要根据样品情况来定。请您在咨询时尽可能的描述样品的情况以及样品状态,由此可制定更好的检测周期和检测方案。

为了防止在制样时对样品产生部分变化,导致检测数据有偏差,检测样品一般为客户提供,如果客户实在无法制作检测样品,则由北检院进行样品的制作。

检测方案可以根据客户检测需求来制定,如果客户要求相应的检测方案则按照客户提供的检测方案进行检测,如客户没有检测方案,则工程师通过检测标准进行制定,如果是非标试验,则由工程师根据样品信息对方案进行制定。

检测流程

检测流程

检测流程

检测优势

1、单位面向科研院所、学校和社会企业及科研单位,面向社会公共服务。

2、实验管理中心下设检测分析中心、科研测试中心、X射线应用中心。

3、面向物理、化学化工、材料、纳米、环境、电子、能源等众多学科。

4、拥有多台精密检测仪器设备。

5、能够从事材料微观结构分析、定性和定量分析、材料性能测定、材料质量综合评定等工作。

6、提供24小时开放服务、网络化的管理。

7、具备向校内外科学研究和品质鉴定提供公正、科研测试数据能力的重要机构。

检测实验室

检测实验室

检测实验室

作为第三方光伏检测机构,北检院可根据光伏的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行光伏检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。
作为第三方装饰纸检测机构,北检院可根据装饰纸的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行装饰纸检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。
作为第三方塑性值检测机构,北检院可根据塑性值的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行塑性值检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。
作为第三方被芯检测机构,北检院可根据被芯的国际标准、国家标准、强制性标准和推荐性标准、行业标准、地方标准和企业标准等进行被芯检测,还可以进行非标检测。北检(北京)检测技术研究院拥有齐全的检测仪器和多领域检测团队,数据科学可靠。
  • 联系电话:400-6350-567投诉电话:010-82491398企业邮箱:010@yjsyi.com地址:北京市丰台区南三环西路16号2号楼27层
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