《GB/T 17421.10-2021 机床检验通则 第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定》GB/T 17421的本部分规定了与数控机床装配成一体的接触式探测系统(离散点探测模式)测量性能评估的检测程序。本部分不含其他型式的探测系统,如那些用于扫描模式或非接触式的探测系统。用于坐标测量机的机床性能评估也不在本部分范围内,这些性能涉及跟踪能力的问题,明显受机床几何精度影响。本部分规定的机床探测系统检测还可按GB/T 16857.2和GB/T 16857.5测定。 数控机床的接触式探测系统在加工过程中应
2023-01-06 16:43:26
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