全部检测标准
《GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射》GB/T 5095的本部分规定了两种试验方法，通过测量传输线中连接器在时域内的反射，来评定连接器的性能。在这些方法中，受试连接器被视为传输线中具有受控特性阻抗的跃变点。 试验方法A采用精密同轴电缆和半硬同轴电缆与受试连接器和试验设备连接。该试验方法适用于多种形状的连接器或电缆组件。 试验方法B采用精密试验板、精密同轴电缆和半硬同轴电缆与受试连接器和试验设备连
2023-01-06 14:35:56
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《GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗》GB/T 5095的本部分规定了最高频率在1 GHz屏蔽的非圆形多芯电短路连接器，采用网络分析仪测量有效（表面）转移阻抗ZTE（用Ω表示）的试验方法，用以评定屏蔽效果。这种方法是以GB/T 17737.1-2013规定的线注入法为基础，采用特定类型的注入线以适应各种形状的连接器。在下文中所述的方法中，由于采用了特定的试验装置，因此检验的不是连接器自身的屏蔽
2023-01-06 14:35:09
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《GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比》GB/T 5095的本部分适用于互连组件，如电连接器、插座和电缆组件。本部分规定了测量互连组件的激励线路与静噪线路之间电磁耦合量的试验规程。描述了用于单端和差分传输的时域法（方法A）和频域法（方法B）两种试验方法及其插入和标准装置法。
2023-01-06 14:34:52
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《GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）》GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本部分描述了测量作为频率函数的衰减/插入损耗的频域法和时域法。 注： 本文件从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结果时，必须使用合适的术语（衰减或插入损耗）。
2023-01-06 14:34:32
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《GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减》GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。
2023-01-06 14:34:09
检测咨询量：111
《GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延》GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本部分描述了测量数字信号从一个规定地点传送至第二个规定地点所需时间的方法。
2023-01-06 14:33:36
检测咨询量：135
《GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗》GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本部分描述了用于测量作为频率函数的回波损耗的频域法和时域法。
2023-01-06 14:32:53
检测咨询量：111
《GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）》GB/T 5095的本部分适用于互连组件，如IEC TC 48范围内的电连接器和电缆组件。本部分描述了在时域和频域内测量阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）的试验方法。 注： 这些测试方法是为专业试验人员编写的，这些试验人员具备电子领域的专业知识并经过使用测试设备的培训。由于测量值受装置和设备的强烈影响，该方法未能叙述所有可能的复合作用。主要设备制造厂
2023-01-06 14:32:35
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《GB/T 5162-2021 金属粉末 振实密度的测定》本文件规定了振实密度的测定方法，即粉末在规定条件下在容器中被振实后的密度。
2023-01-06 14:32:19
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《GB/T 5755-2021 钢丝绳芯输送带 绳与包覆胶粘合试验 原始状态下和热老化后试验》本标准规定了钢丝绳与包覆橡胶之间粘合强度(包括原始状态下和热老化后)的试验方法。本标准适用于有金属骨架的输送带。
2023-01-06 14:31:51
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